| 更換新的內(nèi)存條后系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定性能下降，并常出現(xiàn)死機(jī)、程序意外關(guān)閉等情況是什么原因造成的呢？
因?yàn)楣收习l(fā)生在更換內(nèi)存條后，所以應(yīng)該重點(diǎn)考慮內(nèi)存的故障。將內(nèi)存條安裝到正常工作的電腦上進(jìn)行檢測(cè)。發(fā)現(xiàn)其能夠穩(wěn)定運(yùn)行，由此排除內(nèi)存本身的故障可能性了。進(jìn)入BIOS設(shè)置中，檢查內(nèi)存的各個(gè)相關(guān)設(shè)置，發(fā)現(xiàn)將BIOS中的CL參數(shù)由“2”改為“3”后，上述現(xiàn)象消失。
CL就是CAS Latency，指的是內(nèi)存存取數(shù)據(jù)所要的延遲時(shí)間，也就是內(nèi)存接到CPU指令后的反應(yīng)速度。CL一般的參數(shù)值是2或3，數(shù)值越小，代表反應(yīng)所用的時(shí)間越短。如果內(nèi)存性能不佳，設(shè)置為“2”時(shí)會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)不穩(wěn)定。本文就是為新?lián)Q的內(nèi)存條性能參數(shù)低于原來(lái)的那條，從而導(dǎo)致其無(wú)法在原來(lái)的環(huán)境中穩(wěn)定工作的例子。
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